La Tomografía computarizada por rayos-X (XCT) es el método por excelencia para el estudio de la estructura interna de los materiales con un alto grado de detalle sin la necesidad de destrucción del objeto. La técnica puede ser aplicada en gran medida a la caracterización de diversos materiales como composites, metales y polímeros.

Durante una evaluación tomográfica, es posible evaluar defectos originados durante la fabricación y/o servicio, o la estructura interna de los mismos. Además, se puede realizar estudios metrológicos y de ingeniera inversa debido a la posibilidad de la técnica de revelar la estructura interna y superficial de los componentes.

La técnica se basa en irradiar el objeto de estudio mediante un haz cónico de rayos X, mientras un detector acumula la radiación que pasa a través la pieza. Durante la inspección, el objeto en estudio se rota en condiciones controladas, tomando proyección de imágenes para cada posición angular. Durante un escaneado se debe cubrir normalmente una rotación de 360° aunque para componentes de gran tamaño pueden realizarse escaneados con un ángulo reducido. Durante una inspección por XCT se utiliza un ordenador de gran capacidad de cálculo para la generación y reconstrucción de la información.

Los resultados pueden visualizarse en secciones (cross sections) o como una representación tridimensional del objeto.